Relaxation of excited surface states of thin Ge-implanted silica films probed by OSEE spectroscopy › Обзор исследований

DOI

https://doi.org/10.1016/j.jlumin.2015.08.073
Конечная издательская версия

A. F. Zatsepin
E. A. Buntov
A. P. Mikhailovich
A. I. Slesarev
B. Schmidt
A. von Czarnowski
Hans-Joachim Fitting

Язык оригинала	Английский
Страницы (с-по)	143-150
Число страниц	8
Журнал	Journal of Luminescence
Том	169
DOI	https://doi.org/10.1016/j.jlumin.2015.08.073
Состояние	Опубликовано - янв. 2016

Предметные области ASJC Scopus

Atomic and Molecular Physics, and Optics
Condensed Matter Physics
Chemistry(all)
Biochemistry
Biophysics

Предметные области WoS

Оптика

ID: 604059