DOI

  • Goran Maconi
  • Ivan Kassamakov
  • Antti Penttila
  • Maria Gritsevich
  • Edward Haeggstrom
  • Karri Muinonen
Язык оригиналаАнглийский
Название основной публикацииOptical Measurement Systems for Industrial Inspection X
РедакторыP Lehmann, W Osten, AA Goncalves
ИздательSPIE International Optical Engineering
Число страниц6
Том10329
ISBN (электронное издание)9781510611030
ISBN (печатное издание)978-1-5106-1103-0
DOI
СостояниеОпубликовано - 2017
СобытиеConference on Optical Measurement Systems for Industrial Inspection X part of the SPIE Optical Metrology Symposium - Munich, Германия
Продолжительность: 26 июн. 2017 → 29 июн. 2017

Серия публикаций

НазваниеProceedings of SPIE
ИздательSPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING
Том10329
ISSN (печатное издание)0277-786X

Конференция

КонференцияConference on Optical Measurement Systems for Industrial Inspection X part of the SPIE Optical Metrology Symposium
Страна/TерриторияГермания
ГородMunich
Период26/06/2017 → 29/06/2017

    Предметные области WoS

  • Инструменты и их применение
  • Оптика

    Предметные области ASJC Scopus

  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Condensed Matter Physics
  • Computer Science Applications
  • Applied Mathematics
  • Electrical and Electronic Engineering

ID: 2040089