Formation of broad domain boundary during dot ion beam irradiation in SBN:Ni single crystals › Обзор исследований

DOI

https://doi.org/10.1080/00150193.2022.2052248
Конечная издательская версия

Язык оригинала	Английский
Страницы (с-по)	72-82
Число страниц	11
Журнал	Ferroelectrics
Том	592
Номер выпуска	1
DOI	https://doi.org/10.1080/00150193.2022.2052248
Состояние	Опубликовано - 2022

Предметные области WoS

Материаловедение, Междисциплинарные труды
Физика, Конденсированных сред

Предметные области ASJC Scopus

Electronic, Optical and Magnetic Materials
Condensed Matter Physics

ID: 30625492