1. 2013
  2. АНАЛИЗ ВОЗМОЖНОСТИ УСТРАНЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ОЭС ПУТЕМ ВЫБОРА ПАРАМЕТРОВ КОНСТРУКЦИИ И ВНЕШНИХ ФАКТОРОВ ОЭС

    Будаи, Б. Т., Породнов, Б. Т., Мякутина, И. В. & Касаткин, Н. В., 2013, в: Дефектоскопия. 1, стр. 84-92 9 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журналСтатьяРецензирование

  3. НАДЕЖНОСТЬ ПАЯНЫХ СОЕДИНЕНИЙ, ВЫПОЛНЕННЫХ ПРИ ПОНИЖЕННОЙ ТЕМПЕРАТУРЕ

    Штенников, В. Н. & Будаи, Б. Т., 2013, в: Дефектоскопия. 9, стр. 68-72 5 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журналСтатьяРецензирование

  4. РАЗВИТИЕ ТЕПЛОФИЗИЧЕСКИХ ОСНОВ КОНТАКТНОЙ ПАЙКИ КАК ФАКТОР УМЕНЬШЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ПРИБОРОВ

    Штенников, В. Н. & Будаи, Б. Т., 2013, в: Дефектоскопия. 3, стр. 65-71 7 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журналСтатьяРецензирование

  5. 2012
  6. The detection of flaws in optoelectronic systems (vol 48, pg 426, 2012)

    Budai, B. T., Porodnov, B. T., Myakutina, I. V. & Kasatkin, N. V., сент. 2012, в: Russian Journal of Nondestructive Testing. 48, 9, стр. 553-553 1 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журналСтатьяРецензирование

  7. The development of a high-precision environmentally friendly method for measuring the thickness of rolled sheets

    Budai, B. T., Porodnov, B. T., Myakutina, I. V. & Tovkach, E. F., авг. 2012, в: Russian Journal of Nondestructive Testing. 48, 8, стр. 483-487 5 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журналСтатьяРецензирование

  8. The detection of flaws in optoelectronic systems

    Budai, B. T., Porodnov, V. T., Myakutina, I. V. & Kasatkin, N. V., июл. 2012, в: Russian Journal of Nondestructive Testing. 48, 7, стр. 426-435 10 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журналСтатьяРецензирование

  9. ПОИСК ДЕФЕКТОВ В ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ СИСТЕМАХ

    Будаи, Б. Т., Породнов, Б. Т., Мякутина, И. В. & Касаткин, Н. В., 2012, в: Дефектоскопия. 7, стр. 45-56

    Результаты исследований: Вклад в журналСтатьяРецензирование

  10. РАЗРАБОТКА ВЫСОКОТОЧНОГО ЭКОЛОГИЧЕСКИ ЧИСТОГО МЕТОДА ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ЛИСТОВОГО ПРОКАТА

    Будаи, Б. Т., Породнов, Б. Т., Мякутина, И. В. & Товкач, Е. Ф., 2012, в: Дефектоскопия. 8, стр. 49-54

    Результаты исследований: Вклад в журналСтатьяРецензирование

  11. 2011
  12. Оптико-электронная система сопровождения: патент на полезную модель

    Будаи, Б. Т., Породнов, Б. Т. & Породнов, Е. С., 20 июл. 2011, IPC № G01S 17/66, Федеральный институт промышленной собственности, Патент № 106760, 30 мар. 2010, № заявки 2010112317/28

    Результаты исследований: Патент

Назад 1 2 3 4 Далее

ID: 103542