1. 2013
  2. НАДЕЖНОСТЬ ПАЯНЫХ СОЕДИНЕНИЙ, ВЫПОЛНЕННЫХ ПРИ ПОНИЖЕННОЙ ТЕМПЕРАТУРЕ

    Штенников, В. Н. & Будаи, Б. Т., 2013, In: Дефектоскопия. 9, p. 68-72 5 p.

    Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

  3. 2012
  4. The detection of flaws in optoelectronic systems (vol 48, pg 426, 2012)

    Budai, B. T., Porodnov, B. T., Myakutina, I. V. & Kasatkin, N. V., Sept 2012, In: Russian Journal of Nondestructive Testing. 48, 9, p. 553-553 1 p.

    Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

  5. The development of a high-precision environmentally friendly method for measuring the thickness of rolled sheets

    Budai, B. T., Porodnov, B. T., Myakutina, I. V. & Tovkach, E. F., Aug 2012, In: Russian Journal of Nondestructive Testing. 48, 8, p. 483-487 5 p.

    Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

  6. The detection of flaws in optoelectronic systems

    Budai, B. T., Porodnov, V. T., Myakutina, I. V. & Kasatkin, N. V., Jul 2012, In: Russian Journal of Nondestructive Testing. 48, 7, p. 426-435 10 p.

    Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

  7. ПОИСК ДЕФЕКТОВ В ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ СИСТЕМАХ

    Будаи, Б. Т., Породнов, Б. Т., Мякутина, И. В. & Касаткин, Н. В., 2012, In: Дефектоскопия. 7, p. 45-56

    Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

  8. 2011
  9. Оптико-электронная система сопровождения: патент на полезную модель

    Будаи, Б. Т., Породнов, Б. Т. & Породнов, Е. С., 20 Jul 2011, IPC No. G01S 17/66, Федеральный институт промышленной собственности, Patent No. 106760, 30 Mar 2010, Priority No. 2010112317/28

    Research output: Patent

Previous 1 2 3 4 Next

ID: 103542