Результаты исследований: Глава в книге, отчете, сборнике статей › Материалы конференции › Рецензирование
Язык оригинала | Английский |
---|---|
Название основной публикации | Optical Measurement Systems for Industrial Inspection X |
Редакторы | P Lehmann, W Osten, AA Goncalves |
Издатель | SPIE International Optical Engineering |
Число страниц | 7 |
Том | 10329 |
ISBN (электронное издание) | 9781510611030 |
ISBN (печатное издание) | 978-1-5106-1103-0 |
DOI | |
Состояние | Опубликовано - 2017 |
Событие | Conference on Optical Measurement Systems for Industrial Inspection X part of the SPIE Optical Metrology Symposium - Munich, Германия Продолжительность: 26 июн. 2017 → 29 июн. 2017 |
Название | Proceedings of SPIE |
---|---|
Издатель | SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING |
Том | 10329 |
ISSN (печатное издание) | 0277-786X |
Конференция | Conference on Optical Measurement Systems for Industrial Inspection X part of the SPIE Optical Metrology Symposium |
---|---|
Страна/Tерритория | Германия |
Город | Munich |
Период | 26/06/2017 → 29/06/2017 |
ID: 2040061