Interference effects in the UV(VUV)-excited luminescence spectroscopy of thin dielectric films › Обзор исследований

DOI

https://doi.org/10.1107/S0909049513002835
Конечная издательская версия

Язык оригинала	Английский
Страницы (с-по)	509-514
Число страниц	6
Журнал	Journal of Synchrotron Radiation
Том	20
Номер выпуска	3
DOI	https://doi.org/10.1107/S0909049513002835
Состояние	Опубликовано - мая 2013

Предметные области ASJC Scopus

Instrumentation
Nuclear and High Energy Physics
Radiation

Предметные области WoS

Инструменты и их применение
Оптика
Физика, Прикладная

ID: 911017