Charge transport mechanism in intercalated Cu (x) HfSe2 compounds › Обзор исследований

DOI

https://doi.org/10.1134/S1063783412070293
Конечная издательская версия

Язык оригинала	Английский
Страницы (с-по)	1348-1352
Число страниц	5
Журнал	Physics of the Solid State
Том	54
Номер выпуска	7
DOI	https://doi.org/10.1134/S1063783412070293
Состояние	Опубликовано - июл. 2012

Предметные области ASJC Scopus

Electronic, Optical and Magnetic Materials
Condensed Matter Physics

Предметные области WoS

Физика, Конденсированных сред

ID: 1080548