Проведены исследования методом ЯМР 125Te топологического изолятора теллурида висмута Bi2Te3 в широком диапазоне от комнатной температуры до 12.5 K. Измерения проводились на импульсном ЯМР-спектрометре Bruker Avance 400. Спектры ЯМР были получены для порошка, приготовленного из монокристалла Bi2Te3, и для монокристаллических пластин в ориентациях c // B и c ⊥ B. Спектры при комнатной температуре состояли из двух линий, которые были отнесены к двум неэквивалентным позициями ядер теллура Te1 и Te2. Параметры тензора сдвига частоты ЯМР были найдены из спектра для порошка. Температурные зависимости спектров для порошка и пластин в ориентации c ⊥ B согласовывались между собой. Изменения положения линий с понижением температуры объяснялись уменьшением сдвига Найта. Была оценена энергия термоактивации носителей заряда. Спектры для пластин в ориентации c У B демонстрировали особенности ниже 91K. Измерены времена спин-решеточной релаксации для порошка и монокристаллических пластин в обеих ориентациях при комнатной температуре.