Метод дифракции обратно-рассеянных электронов (EBSD) широко используется для исследования кристаллографических ориентационных соотношений в структурных составляющих стали, в том числе в бейните. Тем не менее тонкую структуру бейнита (субпластины и пластины, составляющие пакет) данным методом не исследуют. Предложена методика визуализации строения приповерхностного слоя конструкционной стали с бейнитной структурой с использованием углов Эйлера, полученных методом дифракции обратно-рассеянных электронов. На примере стали 25Г2С2Н2МА получена трехмерная картина субструктуры бейнита, которая удовлетворительно согласуется с данными, полученными методом атомной силовой микроскопии.