По данным импедансной спектроскопии в интеркалированных образцах AgxHfS2 обнаружена значительная частотная дисперсия действительной и мнимой составляющих диэлектрической проницаемости. При использовании модульного формализма были определены времена диэлектрической релаксации, уменьшающиеся по величине при возрастании содержания серебра в образцах. Показано их совпадение с временами релаксации, определенными по частотным зависимостям мнимых частей комплексного импеданса.