С помощью анализа картин изгибных экстинкционных контуров, присутствующих на электронно-микроскопических изображениях нанотонких (~80 нм) пространственных диссипативных структур (ПДС) гексагонального селена - нанотонких кристаллов гексагонального селена с упругим ротационным искривлением решетки вокруг [001], исследуются процессы формирования в них оборванных межблочных границ. Обнаружен эффект изменения знака вектора разориентировки вдоль оборванных межблочных границ кручения. Развивается модель формирования межблочных границ кручения в нанотоких ПДС селена, решетка которых испытывает упругое ротационное искривление вокруг [001].