TY - PAT

T1 - Способ определения радиуса кривизны шейки и минимального диаметра образца при растяжении

T2 - патент на изобретение

AU - Ерпалов, Михаил Викторович

PY - 2022/12/8

Y1 - 2022/12/8

N2 - Изобретение относится к области определения физико-механических свойств материалов. Для определения радиуса кривизны шейки и минимального диаметра образца при растяжении образец подвергают испытанию с одновременной съемкой процесса нагружения. Для этого используют цифровую фото- или видеокамеру. Получают отдельные изображения образца с шейкой, на которых выделяют контуры образца и определяют координаты точек, принадлежащих поверхности образца. На основе полученных значений координат осуществляют аппроксимацию продольного профиля образца с помощью уравнения регрессии, на основе которого затем рассчитывают радиус кривизны шейки и определяют минимальный диаметр образца. При этом для аппроксимации профиля шейки используют часть изображения в пределах начальной рабочей длины образца, а аппроксимацию профиля шейки осуществляют с помощью соответствующего уравнения. Далее вычисляют значения радиуса кривизны шейки и минимального диаметра образца при растяжении. Технический результат - повышение точности определяемых значений радиуса кривизны шейки и минимального диаметра образца благодаря обеспечению высокой точности при аппроксимации продольного профиля шейки независимо от размеров выбираемой области изображения образца. 7 ил.

AB - Изобретение относится к области определения физико-механических свойств материалов. Для определения радиуса кривизны шейки и минимального диаметра образца при растяжении образец подвергают испытанию с одновременной съемкой процесса нагружения. Для этого используют цифровую фото- или видеокамеру. Получают отдельные изображения образца с шейкой, на которых выделяют контуры образца и определяют координаты точек, принадлежащих поверхности образца. На основе полученных значений координат осуществляют аппроксимацию продольного профиля образца с помощью уравнения регрессии, на основе которого затем рассчитывают радиус кривизны шейки и определяют минимальный диаметр образца. При этом для аппроксимации профиля шейки используют часть изображения в пределах начальной рабочей длины образца, а аппроксимацию профиля шейки осуществляют с помощью соответствующего уравнения. Далее вычисляют значения радиуса кривизны шейки и минимального диаметра образца при растяжении. Технический результат - повышение точности определяемых значений радиуса кривизны шейки и минимального диаметра образца благодаря обеспечению высокой точности при аппроксимации продольного профиля шейки независимо от размеров выбираемой области изображения образца. 7 ил.

UR - https://www.elibrary.ru/item.asp?id=49946333

M3 - Патент

M1 - 2785539

Y2 - 2021/12/28

PB - Федеральный институт промышленной собственности

ER -