Рекурсивным методом в модели жестких ионов проведены расчеты частот резонансных колебаний в кристаллах CaF2, SrF2, BaF2, индуцируемых междоузельными ионами фтора и анионными вакансиями. Исследовано влияние релаксации решетки на частоты дефектных колебаний. Для кристалла SrF2 проведены также расчеты локальной динамики вблизи анионной вакансии с различным зарядовым состоянием. Полученные данные удовлетворительно согласуются с имеющимися расчетами других авторов и экспериментом.