Методом ориентационной микроскопии (EBSD) в медной проволоке, изготовленной волочением, исследованы особенности текстуры рекристаллизации. Показано, что строгие кристаллогеометрические соотношения между деформационными и рекристаллизационными ориентировками являются следствием доминирующей роли в структурных превращениях специальных разориентаций - специальных границ. Предложены механизмы возникновения и «роста» двойников отжига.