Проведена регистрация динамики спеклов в плоскости изображения монослоя клеток, культивированных на стеклянной подложке. В качестве объектов исследования выбраны культуры клеток ЛЭЧ-3, Л-41 и Vero. В течение суток регистрировались оцифрованное значение интенсивности излучения I в одном пикселе и параметр η, характеризующий изменение в распределении интенсивности на участке 10× 10 пикселов. Коэффициент множественной детерминированности, рассчитанный по зависимостям η от времени, для трёх клеточных культур равен 0,94.