Ссылки

Программа с помощью численного метода рассчитывает распределение интенсивности излучения в объеме диэлектрика при его облучении ультракороткими лазерными импульсами с учётом Керровской фокусировки и мультифотонного поглощения. Рассматриваемый образец имеет цилиндрическую форму. Входные параметры задачи: коэффициент четырёхфотонного поглощения, показатель преломления, коэффициент Керровской фокусировки, длина и радиус образца, длина волны лазера, параметр М2 излучения, длительность импульса, средняя мощность излучения, исходный радиус луча, фокусное расстояние объектива. Программа может быть использована для оптимизации параметров облучения прозрачных диэлектриков ультракороткими лазерными импульсами. Исследование выполнено при финансовой поддержке Минобрнауки РФ в рамках Программы развития УрФУ в соответствии с программой стратегического академического лидерства «Приоритет-2030».
Язык оригиналаРусский
Номер патента2023681312
Дата приоритета03/10/2023
Дата подачи заявки03/10/2023
СостояниеОпубликовано - 12 окт. 2023

ID: 57074864