1. 2014
  2. Low Energy Electron Emission from Surface-Interface States of SiO2:Ge Films

    Zatsepin, A. F., Buntov, E. A., Mikhailovich, A. P., Slesarev, A. I., Fitting, H. -J. & Schmidt, B., 2014, FUNDAMENTALS AND APPLICATIONS IN SILICA AND ADVANCED DIELECTRICS (SIO2014). Carbonaro, CM. & Ricci, PC. (ред.). American Institute of Physics Publising LLC, стр. 179-184 6 стр. (AIP Conference Proceedings; том 1624).

    Результаты исследований: Глава в книге, отчете, сборнике статейМатериалы конференцииРецензирование

  3. Structure and vibrations of different charge Ge impurity in alpha-quartz

    Kislov, A. N., Mikhailovich, A. P. & Zatsepin, A. F., 2014, FUNDAMENTALS AND APPLICATIONS IN SILICA AND ADVANCED DIELECTRICS (SIO2014). Carbonaro, CM. & Ricci, PC. (ред.). American Institute of Physics Publising LLC, стр. 64-68 5 стр. (AIP Conference Proceedings; том 1624).

    Результаты исследований: Глава в книге, отчете, сборнике статейМатериалы конференцииРецензирование

  4. 2013
  5. Экологический фотомониторинг естественных и антропогенных ландшафтов

    Фомин, В. В. & Михайлович, А. П., 2013, в: Аграрный вестник Урала. 11(117), стр. 16-21

    Результаты исследований: Вклад в журналСтатьяРецензирование

  6. 2008
  7. Metrological aspects of image analysis

    Fomin, V. V., Mikhailovich, A. P., Popov, A. S., Nizametdinov, N. F. & Shalaumova, Y. V., 2008, в: Measurement Techniques. 51, 2, стр. 146-151 6 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журналСтатьяРецензирование

  8. 2004
  9. A photo-thermally stimulated exoemission technique used to study the properties of HTSC ceramics based on YBa2Cu3O 7-δ

    Syurdo, A. I., Kortov, V. S., Mil'Man, I. I., Slesarev, A. I. & Mikhailovich, A. P., дек. 2004, в: Russian Journal of Nondestructive Testing. 40, 12, стр. 830-833 4 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журналСтатьяРецензирование

Назад 1 2 3 Далее

ID: 95624