1. 2005
  2. Deaging in Gd 2(MoO 4) 3 by cyclic motion of a single planar domain wall

    Shur, V. Y., Shishkin, E. I., Baturin, I. S., Shur, A. G., Utschig, T., Schlegel, T., Lupascu, D. C. & Nikolaeva, E. V., 1 окт. 2005, в: Journal of Applied Physics. 98, 7, 074106.

    Результаты исследований: Вклад в журналСтатьяРецензирование

  3. Influence of irradiation on the switching behavior in PZT thin films

    Baturin, I., Menou, N., Shur, V., Muller, C., Kuznetsov, D., Hodeau, J. L. & Sternberg, A., 15 июл. 2005, в: Materials Science and Engineering B: Solid-State Materials for Advanced Technology. 120, 1-3, стр. 141-145 5 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журналМатериалы конференцииРецензирование

  4. Polarization fatigue in Pb Zr 0.45 Ti 0.55 O 3 -based capacitors studied from high resolution synchrotron x-ray diffraction

    Menou, N., Muller, C., Baturin, I. S., Shur, V. Y. & Hodeau, J. L., 28 июн. 2005, в: Journal of Applied Physics. 97, 6, 064108.

    Результаты исследований: Вклад в журналСтатьяРецензирование

  5. Heterogeneity of fatigue in bulk lead zirconate titanate

    Zhang, Y., Lupascu, D. C., Aulbach, E., Baturin, I., Bell, A. J. & Rödel, J., 1 мая 2005, в: Acta Materialia. 53, 8, стр. 2203-2213 11 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журналСтатьяРецензирование

  6. Evolution of bias field and offset piezoelectric coefficient in bulk lead zirconate titanate with fatigue

    Zhang, Y., Baturin, I. S., Aulbach, E., Lupascu, D. C., Kholkin, A. L., Shur, V. Y. & Rödel, J., 1 янв. 2005, в: Applied Physics Letters. 86, 1, стр. 012910-1-012910-3 3 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журналСтатьяРецензирование

  7. 2004
  8. Failure analysis of FeCAPs. Electrical behaviour under synchrotron X-ray irradiation

    Menou, N., Castagnos, A-M., Muller, C., Johnson, J., Wouters, D. J., Baturin, I. & Shur, V. Y., 1 дек. 2004, в: Integrated Ferroelectrics. 61, стр. 89-95 7 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журналСтатьяРецензирование

  9. 2003
  10. New approach to analysis of the switching current data, recorded during conventional hysteresis measurements

    Shur, V. Y., Baturin, I. S., Shishkin, E. I. & Belousova, M. V., 1 дек. 2003, в: Integrated Ferroelectrics. 53, стр. 379-390 12 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журналСтатьяРецензирование

  11. New approach to analysis of the switching current data in ferroelectric thin films

    Shur, V. Y., Baturin, I. S., Shishkin, E. I. & Belousova, M. V., 1 июн. 2003, в: Ferroelectrics. 291, стр. 27-35 9 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журналСтатьяРецензирование

  12. 2002
  13. Kinetic approach for describing the fatigue effect in ferroelectrics

    Shur, V. Y., Rumyantsev, E. L., Nikolaeva, E. V., Shishkin, E. I. & Baturin, I. S., 1 нояб. 2002, в: Physics of the Solid State. 44, 11, стр. 2145-2150 6 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журналСтатьяРецензирование

  14. Fatigue effect in bulk ferroelectrics

    Shur, V. Y., Rumyantsev, E., Nikolaeva, E., Shishkin, E., Baturin, I., Shur, A., Lupascu, D. C., Randall, C. A. & Ozgul, M., 1 янв. 2002, в: Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering. 4699, стр. 40-50 11 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журналСтатьяРецензирование

ID: 64446