В работе изучены оптические свойства микрокристаллического порошка диоксида гафния. Методами рентгеновской дифракции и рамановской спектроскопии установлено, что исследуемые образцы обладают моноклинной кристаллической решёткой. На основе анализа спектров диффузного отражения и применения формализма Кубелки-Мунка выполнена оценка ширины непрямой запрещённой зоны Eg = 5.34 ± 0.05 эВ. Полученная величина согласуется с независимыми данными для пленок HfO2, синтезированных различными методами. Статья подготовлена по материалам доклада на Первой Всероссийской научной конференции с международным участием«ЕНИСЕЙСКАЯ ФОТОНИКА - 2020.»