Research output: Contribution to journal › Article › peer-review
Research output: Contribution to journal › Article › peer-review
}
TY - JOUR
T1 - МАГНИТОИМПЕДАНСНЫЕ СВОЙСТВА АМОРФНОЙ ПРОВОЛОКИ COFESIB В ШИРОКОМ ЧАСТОТНОМ ДИАПАЗОНЕ: ФОКУС НА СЕНСОРНЫЕ ПРИЛОЖЕНИЯ
AU - Голубева, Елизавета Владимировна
AU - Волчков, Станислав Олегович
AU - Щербинин, Сергей Витальевич
AU - Курляндская, Галина Владимировна
PY - 2018
Y1 - 2018
N2 - Проведено исследование магнитных свойств и особенностей гигантского магнитного импеданса быстрозакаленных аморфных проволок состава (Co0,94Fe0,06)72,5Si12,5B15. Рассчитаны значения рабочего интервала и чувствительности по отношению к изменению внешнего квазистатического магнитного поля для частот переменного тока от 1 МГц до 1 ГГц. Вычислены оптимальные параметры для применения таких проволок в качестве чувствительного элемента датчика магнитного поля и определена величина чувствительности датчика по отношению к внешнему магнитному полю. Сконструирован прототип датчика, результаты испытаний которого подтвердили возможность применения гигантского магнитного импеданса датчиков на основе аморфных проволок CoFeSiB в дефектоскопии.
AB - Проведено исследование магнитных свойств и особенностей гигантского магнитного импеданса быстрозакаленных аморфных проволок состава (Co0,94Fe0,06)72,5Si12,5B15. Рассчитаны значения рабочего интервала и чувствительности по отношению к изменению внешнего квазистатического магнитного поля для частот переменного тока от 1 МГц до 1 ГГц. Вычислены оптимальные параметры для применения таких проволок в качестве чувствительного элемента датчика магнитного поля и определена величина чувствительности датчика по отношению к внешнему магнитному полю. Сконструирован прототип датчика, результаты испытаний которого подтвердили возможность применения гигантского магнитного импеданса датчиков на основе аморфных проволок CoFeSiB в дефектоскопии.
UR - https://elibrary.ru/item.asp?id=36368681
U2 - 10.1134/S0130308218100068
DO - 10.1134/S0130308218100068
M3 - Статья
SP - 42
EP - 50
JO - Дефектоскопия
JF - Дефектоскопия
SN - 0130-3082
IS - 10
ER -
ID: 8366420