Методом трехмерного микромагнитного моделирования исследованы доменные структуры в пленке Co(0001) толщиной 200 нм, содержащие блоховские линии. Показано, что в тех случаях, когда доменные границы являются вихревыми, блоховские линии включают в себя блоховские точки. Рассмотрены процессы преобразования доменных структур, содержащих блоховские линии, при намагничивании пленки до насыщения и последующем уменьшении магнитного поля до нулевого значения (для полей, лежащих либо в плоскости пленки, либо вдоль нормали к пленке). Проанализированы конфигурации намагниченности в блоховских линиях. Показано, что при наложении магнитного поля, образующего некоторый угол с плоскостью пленки, формируются блоховские линии, имеющие как вертикальные, так и горизонтальные участки.