TY - JOUR

T1 - Изучение матричных помех при ИСП-АЭС определении селена и теллура в металлургических материалах

AU - Белозерова, А. А.

AU - Майорова, А. В.

AU - Бардина, М. Н.

N1 - Работа выполнена при финансовой поддержке РНФ (проект № 23-23-00138) с использованием оборудования ЦКП «Урал-М».

PY - 2023

Y1 - 2023

N2 - При определении примесных содержаний селена и теллура в металлургических материалах методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой значительное влияние на результаты анализа могут оказывать компоненты основы пробы. Было проведено теоретическое и экспериментальное исследование влияния макрокомпонентов проб металлургических материалов (железо, никель, хром, молибден, кобальт, медь, вольфрам) на определение селена и теллура по различным аналитическим линиям. Для теоретического прогнозирования процессов, протекающих при атомизации анализируемых растворов в аргоновой плазме, было применено термодинамическое моделирование. Установлено, что матричные неспектральные помехи имеют место при определении селена (линии Бе I 196,026, Бе I 209,980, Se I 203,279, Se I 207,479 нм) в присутствии более 50 мг/дм3 хрома как наиболее легко ионизуемого макрокомпонента и носят ионизационный характер, а в случае теллура матричные неспектральные помехи не наблюдаются. Экспериментально показано, что линии селена и теллура несвободны от спектральных наложений линий макрокомпонентов (железа, никеля, хрома, молибдена, кобальта, меди и вольфрама). Наибольшее влияние на интенсивность ряда исследованных аналитических линий оказывают Сr, Mo, W и Se. Для снижения пределов обнаружения и повышения надежности ИСП-АЭС определения селена и теллура необходимо использовать процедуру их отделения от компонентов основы пробы.

AB - При определении примесных содержаний селена и теллура в металлургических материалах методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой значительное влияние на результаты анализа могут оказывать компоненты основы пробы. Было проведено теоретическое и экспериментальное исследование влияния макрокомпонентов проб металлургических материалов (железо, никель, хром, молибден, кобальт, медь, вольфрам) на определение селена и теллура по различным аналитическим линиям. Для теоретического прогнозирования процессов, протекающих при атомизации анализируемых растворов в аргоновой плазме, было применено термодинамическое моделирование. Установлено, что матричные неспектральные помехи имеют место при определении селена (линии Бе I 196,026, Бе I 209,980, Se I 203,279, Se I 207,479 нм) в присутствии более 50 мг/дм3 хрома как наиболее легко ионизуемого макрокомпонента и носят ионизационный характер, а в случае теллура матричные неспектральные помехи не наблюдаются. Экспериментально показано, что линии селена и теллура несвободны от спектральных наложений линий макрокомпонентов (железа, никеля, хрома, молибдена, кобальта, меди и вольфрама). Наибольшее влияние на интенсивность ряда исследованных аналитических линий оказывают Сr, Mo, W и Se. Для снижения пределов обнаружения и повышения надежности ИСП-АЭС определения селена и теллура необходимо использовать процедуру их отделения от компонентов основы пробы.

UR - https://www.elibrary.ru/item.asp?id=53803370

UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?partnerID=8YFLogxK&scp=85166054988

U2 - 10.26896/1028-6861-2023-89-5-19-27

DO - 10.26896/1028-6861-2023-89-5-19-27

M3 - Статья

VL - 89

SP - 19

EP - 27

JO - Заводская лаборатория. Диагностика материалов

JF - Заводская лаборатория. Диагностика материалов

SN - 1028-6861

IS - 5

ER -