Standard

Экситоны с переносом заряда в ВТСП купратах и никелатах. / Москвин, А. С.
In: Оптика и спектроскопия, Vol. 131, No. 4, 2023, p. 491-501.

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

Harvard

APA

Vancouver

Москвин АС. Экситоны с переносом заряда в ВТСП купратах и никелатах. Оптика и спектроскопия. 2023;131(4):491-501. doi: 10.21883/OS.2023.04.55553.70-22

Author

Москвин, А. С. / Экситоны с переносом заряда в ВТСП купратах и никелатах. In: Оптика и спектроскопия. 2023 ; Vol. 131, No. 4. pp. 491-501.

BibTeX

@article{915cdd44d9904583a3234d5f9379c85e,
title = "Экситоны с переносом заряда в ВТСП купратах и никелатах",
abstract = "Анализ оптических свойств соединений на основе 3d-элементов позволяет получать ценную информацию об электронной структуре основного состояния и низкоэнергетических возбуждениях. Так, мы показываем, что анализ d-d-экситонов с переносом заряда в диэлектрической антиферромагнитной фазе купратов и метастабильных низкоэнергетических электронно-дырочных EH-димеров как результата их эволюции, с учетом электрон-решеточной релаксации, оказывается весьма плодотворным не только для описания линейных и нелинейных оптических свойств и фотоиндуцированных эффектов, но и для разработки перспективной модели зарядовых триплетов для описания низкоэнергетической электронной структуры и фазовых T-x-диаграмм активных CuO2-плоскостей в купратах типа T-La2CuO4 или T-Nd2CuO4, а также NiO2-плоскостей в никелатах типа RNiO2 и их эволюции при изменении основных энергетических параметров.",
author = "Москвин, {А. С.}",
note = "Работа выполнена при поддержке Министерства Образования и Науки Российской Федерации, проект N FEUZ-2023-0017.",
year = "2023",
doi = "10.21883/OS.2023.04.55553.70-22",
language = "Русский",
volume = "131",
pages = "491--501",
journal = "Оптика и спектроскопия",
issn = "0030-4034",
publisher = "Издательство {"}Наука{"}",
number = "4",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - Экситоны с переносом заряда в ВТСП купратах и никелатах

AU - Москвин, А. С.

N1 - Работа выполнена при поддержке Министерства Образования и Науки Российской Федерации, проект N FEUZ-2023-0017.

PY - 2023

Y1 - 2023

N2 - Анализ оптических свойств соединений на основе 3d-элементов позволяет получать ценную информацию об электронной структуре основного состояния и низкоэнергетических возбуждениях. Так, мы показываем, что анализ d-d-экситонов с переносом заряда в диэлектрической антиферромагнитной фазе купратов и метастабильных низкоэнергетических электронно-дырочных EH-димеров как результата их эволюции, с учетом электрон-решеточной релаксации, оказывается весьма плодотворным не только для описания линейных и нелинейных оптических свойств и фотоиндуцированных эффектов, но и для разработки перспективной модели зарядовых триплетов для описания низкоэнергетической электронной структуры и фазовых T-x-диаграмм активных CuO2-плоскостей в купратах типа T-La2CuO4 или T-Nd2CuO4, а также NiO2-плоскостей в никелатах типа RNiO2 и их эволюции при изменении основных энергетических параметров.

AB - Анализ оптических свойств соединений на основе 3d-элементов позволяет получать ценную информацию об электронной структуре основного состояния и низкоэнергетических возбуждениях. Так, мы показываем, что анализ d-d-экситонов с переносом заряда в диэлектрической антиферромагнитной фазе купратов и метастабильных низкоэнергетических электронно-дырочных EH-димеров как результата их эволюции, с учетом электрон-решеточной релаксации, оказывается весьма плодотворным не только для описания линейных и нелинейных оптических свойств и фотоиндуцированных эффектов, но и для разработки перспективной модели зарядовых триплетов для описания низкоэнергетической электронной структуры и фазовых T-x-диаграмм активных CuO2-плоскостей в купратах типа T-La2CuO4 или T-Nd2CuO4, а также NiO2-плоскостей в никелатах типа RNiO2 и их эволюции при изменении основных энергетических параметров.

UR - https://elibrary.ru/item.asp?id=53768157

U2 - 10.21883/OS.2023.04.55553.70-22

DO - 10.21883/OS.2023.04.55553.70-22

M3 - Статья

VL - 131

SP - 491

EP - 501

JO - Оптика и спектроскопия

JF - Оптика и спектроскопия

SN - 0030-4034

IS - 4

ER -

ID: 40105574