Research output: Contribution to journal › Article › peer-review
Research output: Contribution to journal › Article › peer-review
}
TY - JOUR
T1 - ГЕНЕРАЦИЯ МОЩНЫХ СВЧ КОЛЕБАНИЙ НАПРЯЖЕНИЯ В ДИФФУЗИОННОМ КРЕМНИЕВОМ ДИОДЕ
AU - Любутин, Сергей К.
AU - РУКИН, Сергей Николаевич
AU - Словиковский, Б. Г.
AU - Цыранов, Сергей Николаевич
PY - 2013
Y1 - 2013
N2 - Исследован механизм генерации мощных СВЧ колебаний напряжения в диффузионном кремниевом диоде. Через диод с толщиной структуры 320 мкм, глубиной залегания p-n-перехода 220 мкм и площадью 0.5 см2 пропускался обратный ток амплитудой 2 кА. При среднем напряжении на диоде около 300 B и длительности СВЧ импульса ~200 нс максимальный размах наблюдаемых колебаний достигает 480 В. Частота колебаний находится в диапазоне от 5 до 7 ГГц, а мощность СВЧ компоненты импульса составляет ~300 кВт. Теоретическое рассмотрение показало, что колебания напряжения обусловлены периодически повторяющимися процессами пробоя и заполнения структуры плазмой с последующим ее удалением обратным током. Частота и размах колебаний определяются плотностью тока и градиентом концентрации легирующих примесей в окрестности p-n-перехода.
AB - Исследован механизм генерации мощных СВЧ колебаний напряжения в диффузионном кремниевом диоде. Через диод с толщиной структуры 320 мкм, глубиной залегания p-n-перехода 220 мкм и площадью 0.5 см2 пропускался обратный ток амплитудой 2 кА. При среднем напряжении на диоде около 300 B и длительности СВЧ импульса ~200 нс максимальный размах наблюдаемых колебаний достигает 480 В. Частота колебаний находится в диапазоне от 5 до 7 ГГц, а мощность СВЧ компоненты импульса составляет ~300 кВт. Теоретическое рассмотрение показало, что колебания напряжения обусловлены периодически повторяющимися процессами пробоя и заполнения структуры плазмой с последующим ее удалением обратным током. Частота и размах колебаний определяются плотностью тока и градиентом концентрации легирующих примесей в окрестности p-n-перехода.
UR - https://elibrary.ru/item.asp?id=20319444
M3 - Статья
VL - 47
SP - 658
EP - 666
JO - Физика и техника полупроводников
JF - Физика и техника полупроводников
SN - 0015-3222
IS - 5
ER -
ID: 8207327