Изучена кинетика процессов на графитовом аноде в оксигалогенидных расплавах на основе эвтектики CsCl-KCl-NaCl с добавками TeO2 и NaF при температуре 600 °С. Исследованы зависимости предельных токов перезаряда ионов теллура и остаточных токов разряда кислородсодержащих ионов от содержания TeO2 и NaF. Превышение этих токов приводит к выделению хлора в оксихлоридных расплавах и фреонов в оксихлоридно-фторидных расплавах. Предложен механизм растворения TeO2 в хлоридных и хлоридно-фторидных расплавах с формированием и последующей диссоциацией ок-2- -сихлорида теллура с образованием O2-, TeCl6, [TeO2Cl]. Их присутствие в электролите подтверждено методом инфра-красной спектроскопии и объясняет высокие скорости разряда на аноде кислородсодержащих ионов.