Standard

Harvard

APA

Vancouver

Author

BibTeX

@misc{8580ec778b0e480086d6b0d3252e8cc3,
title = "СПОСОБ ИЗУЧЕНИЯ ПЕРВИЧНОЙ РЕКРИСТАЛЛИЗАЦИИ: патент на изобретение",
abstract = "Использование: для изучения первичной рекристаллизации. Сущность: заключается в том, что осуществляют нагартовку образца и повышение его температуры до температуры прохождения рекристаллизации, при этом к образцу прикладывают постоянную нагрузку, приводящую к упругой деформации, а при повышении температуры фиксируют изменение модуля упругости, находят на зависимости изменения модуля упругости в функции температуры зону повышения градиента модуля упругости, продолжают линию, предшествующую началу зоны смены градиентов модуля упругости, продолжают линию после завершения зоны смены градиентов модуля упругости до пересечения с линией, предшествующей зоне смены градиентов модуля упругости, и идентифицируют абсциссу этой точки с температурой начала рекристаллизации. Технический результат: обеспечение возможности нахождения температуры начала рекристаллизации.",
author = "Демаков, {Сергей Леонидович} and Логинов, {Юрий Николаевич} and Илларионов, {Анатолий Геннадьевич} and Степанов, {Степан Игоревич} and Зорина, {Мария Александровна}",
year = "2013",
month = oct,
day = "20",
language = "Русский",
publisher = "Федеральный институт промышленной собственности",
address = "Российская Федерация",
type = "Patent",
note = "2496103; G01N 19/00",

}

RIS

TY - PAT

T1 - СПОСОБ ИЗУЧЕНИЯ ПЕРВИЧНОЙ РЕКРИСТАЛЛИЗАЦИИ

T2 - патент на изобретение

AU - Демаков, Сергей Леонидович

AU - Логинов, Юрий Николаевич

AU - Илларионов, Анатолий Геннадьевич

AU - Степанов, Степан Игоревич

AU - Зорина, Мария Александровна

PY - 2013/10/20

Y1 - 2013/10/20

N2 - Использование: для изучения первичной рекристаллизации. Сущность: заключается в том, что осуществляют нагартовку образца и повышение его температуры до температуры прохождения рекристаллизации, при этом к образцу прикладывают постоянную нагрузку, приводящую к упругой деформации, а при повышении температуры фиксируют изменение модуля упругости, находят на зависимости изменения модуля упругости в функции температуры зону повышения градиента модуля упругости, продолжают линию, предшествующую началу зоны смены градиентов модуля упругости, продолжают линию после завершения зоны смены градиентов модуля упругости до пересечения с линией, предшествующей зоне смены градиентов модуля упругости, и идентифицируют абсциссу этой точки с температурой начала рекристаллизации. Технический результат: обеспечение возможности нахождения температуры начала рекристаллизации.

AB - Использование: для изучения первичной рекристаллизации. Сущность: заключается в том, что осуществляют нагартовку образца и повышение его температуры до температуры прохождения рекристаллизации, при этом к образцу прикладывают постоянную нагрузку, приводящую к упругой деформации, а при повышении температуры фиксируют изменение модуля упругости, находят на зависимости изменения модуля упругости в функции температуры зону повышения градиента модуля упругости, продолжают линию, предшествующую началу зоны смены градиентов модуля упругости, продолжают линию после завершения зоны смены градиентов модуля упругости до пересечения с линией, предшествующей зоне смены градиентов модуля упругости, и идентифицируют абсциссу этой точки с температурой начала рекристаллизации. Технический результат: обеспечение возможности нахождения температуры начала рекристаллизации.

UR - https://elibrary.ru/item.asp?id=37517914

M3 - Патент

M1 - 2496103

Y2 - 2012/03/01

PB - Федеральный институт промышленной собственности

ER -

ID: 6485795